即日起愛發公司正式代理加拿大 Proto 公司有關之材料表徵的尖端儀器產品

即日起愛發公司正式代理加拿大 Proto 公司有關之材料表徵的尖端儀器產品，包含各種 X 射線表徵相關儀器：三維三軸殘餘應力和殘餘奧氏體測量系統、粉末、薄膜 X 射線繞射儀、單晶結構分析繞射儀、Laue 勞厄單晶取向系統、高解析度X射線繞射儀、微小部X射線螢光系統和成像系統、CT 系統和成像系統。此外，還提供 X 射線 管，X射線產生器(XRD、XRF)和高功率動態電解拋光機以及特別訂製設備…等，以 滿足客戶的獨特需求。

• 高端粉末繞射儀：提供終極解決方案，從桌上型台式系統到緊湊型落地式或全功能實驗室落地型系統中進行選擇。
• 粉末繞射儀附件配備：入射光光學系統(多層膜、2-bounce、4-bounce)、薄膜光學系統、光子計數探測器、Si半導體探測器(可做XRD & XRF分析)，高溫、低溫、高壓、樣品自動交換機…等附件裝置。
• AXRD 產品線：為您帶來便利和價值，即使是最苛刻的 X 射線繞射材料研 究也是如此。如果您需要一台繞射儀來用於特殊訂製的應用， Proto 公司為 您的 XRD 需求開發獨特的解決方案，也可訂製產品，包括粉末繞射儀、 單晶系統以及更多的應用提供幫助選項；另有一系列用於單晶定向的選擇。
• 經濟高效的 Laue-COS 系統：非常適合在研發實驗室中單晶定向和切割晶 體。一般單晶定向解析(含Data base)或依循 Turbine Industry 標準【US1、 US2 angles，European(UK)angles】
• 高速 Laue-HT系統：專為生產級檢測環境而設計，例如單晶渦輪鑄造設 備。一般單晶定向解析(含Data base)或依循Turbine Industry 標準【US1、 US2 angles，European(UK)angles，R-Value(兩個相鄰晶粒的晶界取向)】
• Proto 公司X射線管製造設施還可以為 XRD、XRF 或成像創建訂製設計。