CSI公司 DIC非接觸式應變量測技術研討會
2017-06-17
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CSI公司於1998年創立，多年來，CSI的科學家和工程師一直至力於形變測量技術的研究和發展工作，被公認是數位影像相關性技術的創始及世界領導公司。該公司是目前唯一一家研發製造三維圖像相關性攝影測量軟體和硬體系統的美國公司。它為材料及產品測試提供非接觸性外形和應變測量方案 本次會議中很榮幸地邀請到美國University of South Carolina趙玉津 博士與國內多所大學之教授共同發表相關產業的應用與介紹。歡迎您蒞臨會場，共襄盛舉！ |
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報名方式：
| 時間 | 2015 年 12 月 15 日星期二 13:00~17:00 | ||||||||||||||||||||||||||||
| 地 點 | 集思北科大會議中心(台北科技大學 億光大樓)2樓 201會議室 (台北市忠孝東路三段197號旁 電話：02-2741-7655) <map> |
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| 諮詢電話 | 02-25115959 孫小姐 (我想報名!) | ||||||||||||||||||||||||||||
| 費用 | 免費報名參加，請儘早報名以免向隅 | ||||||||||||||||||||||||||||
| 課程內容 |
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